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    Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案

    作者:至一科技 日期:2021-01-02 點擊:2321
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    Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案

    SOTOMD300-M被動隔振系統


    背景:半導體光電測試應用

    使用單位:深圳市海思半導體有限公司

    地點:廣東省深圳市龍崗區坂田華為基地F區

    設備:Hisilicon半導體光電檢測設備

    隔振方案:SOTOMD300-M


    半導體隔振系統.jpgSOTOMD被動隔振系統.jpg
    海思半導體設備SOTOMD隔振臺.jpg
    Hisilicon半導體光電檢測設備SOTOMD300-M被動隔振系統安裝應用圖


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